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X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀
- 更新時(shí)間：2021-04-16
- 瀏覽次數(shù)：1778
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速且準(zhǔn)確地測(cè)定鍍層厚度時(shí)，XUL® 系列測(cè)量?jī)x器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量，能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件 |
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀
品牌：德國(guó)菲希爾Fischer
篤摯儀器提供的產(chǎn)品有：圓度儀，圓柱度儀，輪廓測(cè)量?jī)x，表面粗糙度儀，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，便攜式三坐標(biāo)測(cè)量臂，測(cè)高儀，高度儀、影像測(cè)量?jī)x，萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀，測(cè)量投影儀，日本三豐量具，瑞士TESA量具，德國(guó)馬爾量具，金相顯微鏡，萬(wàn)能工具顯微鏡，掃描電子顯微鏡，涂鍍層測(cè)厚儀，超聲波測(cè)厚儀，凸輪軸綜合測(cè)量機(jī)，曲軸綜合測(cè)量機(jī)，齒輪測(cè)量中心，直讀光譜儀，便攜式光譜儀，合金元素分析儀，重金屬元素分析儀，貴金屬元素檢測(cè)儀，液相色譜儀，殘余應(yīng)力分析儀，精密計(jì)量檢測(cè)儀器；產(chǎn)品涵蓋長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器、試驗(yàn)儀器、測(cè)繪儀器、分析儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、建筑儀器、光學(xué)儀器、無(wú)損檢測(cè)等。
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菲希爾熒光鍍層測(cè)厚儀介紹：
在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速且準(zhǔn)確地測(cè)定鍍層厚度時(shí)，XUL® 系列測(cè)量?jī)x器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量，能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
型號(hào)包括：
? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
? FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
主要特性性：
憑借寬大的測(cè)量室和自下而上的測(cè)量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡(jiǎn)便、快速地定位
硬件選項(xiàng)豐富多樣，可滿足各種測(cè)量需求
可選配微聚焦 X 射線管，從而可測(cè)量直徑僅為 100 µm 的微型結(jié)構(gòu)和測(cè)量表面
應(yīng)用：
鉻鍍層，如：經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
印制電路板和柔性電路板上的鍍層
接插件和連接器上的鍍層
電鍍槽液分析
特征：
帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
X射線探測(cè)器采用比例接收器
準(zhǔn)直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
基本濾片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
測(cè)量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
固定的樣品支撐臺(tái)或手動(dòng)XY工作臺(tái)
攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。 刻度線經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)， 顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
設(shè)計(jì)獲得許可， 防護(hù)全面， 符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)
