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產(chǎn)品中心
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測厚儀
從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術。如今,菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用,滿足客戶對儀器準確度,精度和可靠性的要求。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當測量門開啟時, XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有開口(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置方便,儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測星形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器,測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測星腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。
X熒光鍍層厚度檢測儀的應用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
●單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
●二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
●三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
●雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
●雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
●多24種鍍層(使用WinFTM? V.6軟件)。
●分析多達4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
●分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
X熒光電鍍厚度檢測儀設計特點:
☆ 單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆ 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測量)
☆ 能分析多達四種金屬成分的合金;電鍍液中金屬離子含量
☆ 可編程的應用項圖標,用于快速應用項選擇
☆ 完整的統(tǒng)計功能,SPC圖,標準的概率圖和矩形圖評估
☆ 報告生成,數(shù)據(jù)輸出
☆ 語言可選擇:英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,及中文
☆菜單中的某些選擇項可授權使用
注:基礎WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應用,所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時,可在交貨前預先創(chuàng)建應用。若沒有定購校準標準塊,則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
☆ 可隨意創(chuàng)建測量應用
☆ 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分
篤摯儀器供應測量儀器,這些產(chǎn)品均由高品質(zhì)的原材料和良好的技術制造,*,符合質(zhì)量標準。我們經(jīng)驗豐富的質(zhì)量控制團隊對儀器提供的測試范圍進行了各種參數(shù)的測試。我們的產(chǎn)品系列因其高性能,高效率,增強的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*好評。*,歡迎電詢!